高速相位差测量装置 RE-200-上海J9.com科学仪器有限公司

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    高速相位差测量装置 RE-200

    产品简介

    ● 可测从0nm开始的低（残留）相位差
    ● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
    （相当于世界jie最zui快速的0.1秒以下来处理）
    ● 无驱动部，重复再现性高
    ● 设置的测量项目少，测量简单
    ● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
    ● Rth测量、全quan方位角测量
    （需要option的自动旋转倾斜治具
    ● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
    (本系统属特注。）

    产品型号：
    更新时间：2025-01-23
    厂商性质：生产厂家
    访问量：655
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    产品信息

    测量项目

    ● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
    ● 主轴方位角（θ[deg.]）
    ● 椭圆率（ε）?方位角（γ）
    ● 三次元折射率（NxNyNz）

    用　途

    ● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
    ● 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

    原　理

    ● 什么是RE-200
    ● RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。

    高速相位差测量装置 RE-200
    执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ。

     

    高速相位差测量装置 RE-200

    规 格

    型号RE series
    样品尺寸最小10×10mm ～最大100×100mm
    测量波长550nm （标准仕样）※1
    相位差测量范围约0nm ～约1μm
    轴检出重复精度0.05°（at 3σ） ※2
    检出器偏光计测模块
    测量光斑直径2.2mm×2.2mm
    光源100W 卤素灯或 LED光源
    本体?重量300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、约20kg

    Option
    ● Rth测量、全quan方位角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）
    ● 动旋转倾斜治具

    高速相位差测量装置 RE-200高速相位差测量装置 RE-200

    测量示例

    视角改善膜A

    高速相位差测量装置 RE-200

    视角改善膜B

    高速相位差测量装置 RE-200


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